LBT涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

LBT涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

圖片展示

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。